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高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和激光多普勒電泳(LDE)技術(shù),提供高分辨率,和快速的粒度和zeta電位測(cè)試和遠(yuǎn)程原位測(cè)試。
MAGELLAN痕量納米顆粒分析儀是一種基于激光誘導(dǎo)擊穿檢測(cè)(LIBD)技術(shù)的測(cè)量水中納米粒子痕量(粒徑分布和濃度)的*儀器。用于水中納米顆粒的痕量表征,靈敏度高于傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)一萬(wàn)倍,顆粒濃度測(cè)定低至 ng/L 的范圍,可對(duì) 10nm 到 1000nm 之間的顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù),為水處理在線監(jiān)測(cè)、超純水監(jiān)測(cè)、濾膜效率及完整性監(jiān)測(cè)以及過(guò)濾工藝.
法國(guó)Cordouan 生產(chǎn)的Vasco kin在線納米粒度儀用于復(fù)雜介質(zhì)中納米顆粒的粒度表征,其性能遠(yuǎn)優(yōu)于目前市面上流行的動(dòng)態(tài)光散射法納米粒度儀。經(jīng)過(guò)短短四年的發(fā)展,Cordouan Technologies 構(gòu)建的表征納米和納米材料的創(chuàng)新解決方案已經(jīng)成為 N3 世界(納米顆粒、納米材料、納米技術(shù))的參考標(biāo)準(zhǔn),用于粒度測(cè)定
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