當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 孔隙率測(cè)定儀 > 固體孔隙率測(cè)定儀 > DT-330固體孔隙率測(cè)定儀
簡要描述:固體孔隙率測(cè)定儀包含DT-300的功能,能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料。
相關(guān)文章
詳細(xì)介紹
公司介紹
美國分散科技公司(DTI)專注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù).DTI開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃分散體系中表征粒徑分布、zeta電位、流變學(xué)參數(shù)、固體含量、孔隙率、包括CMP漿料,納米分散體系、陶瓷漿料,電池漿料,水泥家族,藥物乳劑等,并可應(yīng)用于多孔固體。
利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí),聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來測(cè)量顆粒粒度及濃度,采用多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)50%(體積)濃度的樣品,無需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測(cè)量。
傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理,既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò),而多頻電聲技術(shù)則可避免這些問題。超聲探頭(Zeta Probe)能直接在樣品的原始條件下測(cè)量zeta電位,允許樣品濃度高達(dá)50%(體積)。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn),可快速得到很好分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強(qiáng),非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。
固體孔隙率測(cè)定儀
產(chǎn)品咨詢
關(guān)于我們
公司簡介 榮譽(yù)資質(zhì) 在線咨詢 聯(lián)系我們新聞中心
公司新聞 技術(shù)文章 資料下載 成功案例產(chǎn)品中心
孔隙率測(cè)定儀微信客服
微信公眾號(hào)
版權(quán)所有Copyright © 2024 儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司 All Right Reserved 備案號(hào):京ICP備16057128號(hào)-2 sitemap.xml 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸